Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"van Bentum, Ralf"'
Autor:
Martin, Dominik, Yurchuk, Ekaterina, Müller, Stefan, Müller, Johannes, Paul, Jan, Sundquist, Jonas, Slesazeck, Stefan, Schlösser, Till, van Bentum, Ralf, Trentzsch, Martin, Schröder, Uwe, Mikolajick, Thomas
Publikováno v:
In Solid State Electronics October 2013 88:65-68
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Venugopalan, Sriramkumar, Joshi, Vivek, Zamudio, Luis, Goldbach, Matthias, Burbach, Gert, Van Bentum, Ralf, Balasubramanian, Sriram
Publikováno v:
2013 Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference; 2013, p1-4, 4p
Autor:
Yurchuk, Ekaterina, Muller, Johannes, Hoffmann, Raik, Paul, Jan, Martin, Dominik, Boschke, Roman, Schlosser, Till, Muller, Stefan, Slesazeck, Stefan, van Bentum, Ralf, Trentzsch, Martin, Schroder, Uwe, Mikolajick, Thomas
Publikováno v:
2012 4th IEEE International Memory Workshop; 1/ 1/2012, p1-4, 4p
Autor:
Martin, Dominik, Yurchuk, Ekaterina, Muller, Stefan, Muller, Johannes, Paul, Jan, Sundquist, Jonas, Slesazeck, Stefan, Schloesser, Till, van Bentum, Ralf, Trentzsch, Martin, Schroeder, Uwe, Mikojajick, Thomas
Publikováno v:
2012 13th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS); 1/ 1/2012, p195-198, 4p
Autor:
Mikolajick, Thomas, Müller, Stefan, Schenk, Tony, Yurchuk, Ekaterina, Slesazeck, Stefan, Schröder, Uwe, Flachowsky, Stefan, van Bentum, Ralf, Kolodinski, Sabine, Polakowski, Patrick, Müller, Johannes
Publikováno v:
Advances in Science and Technology; October 2014, Vol. 95 Issue: 1 p136-145, 10p
Autor:
Mikolajick, Thomas, Müller, Stefan, Schenk, Tony, Yurchuk, Ekaterina, Slesazeck, Stefan, Schröder, Uwe, Flachowsky, Stefan, van Bentum, Ralf, Kolodinski, Sabine, Polakowski, Patrick, Müller, Johannes
Publikováno v:
Advances in Science and Technology; October 2006, Vol. 45 Issue: 1 p136-145, 10p
Autor:
Yurchuk, Ekaterina, Mueller, Stefan, Martin, Dominik, Slesazeck, Stefan, Schroeder, Uwe, Mikolajick, Thomas, Muller, Johannes, Paul, Jan, Hoffmann, Raik, Sundqvist, Jonas, Schlosser, Till, Boschke, Roman, van Bentum, Ralf, Trentzsch, Martin
Publikováno v:
2014 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2014, p2E.5.1-2E.5.5, 0p