Zobrazeno 1 - 10 of 32 pro vyhledávání: '"uezono, takumi"'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
State-of-the-Art Study on Mitigation Techniques of Single Event Effects in Terrestrial Applications
Autor: Ibe, Eishi, Shimbo, Kenichi, Toba, Tadanobu, Taniguchi, Hitoshi, Uezono, Takumi, Nishii, Koji, Taniguchi, Yoshio
Publikováno v: 宇宙航空研究開発機構特別資料 = JAXA Special Publication. :148-154
As semiconductor device scaling is on-going far below 100nm design rule, terrestrial neutron-induced soft-error typically in CMOS devices is predicted to be worsen furthermore. Moreover, novel failure modes that may be more serious than those in memo
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::c9155e3d780a4c6a0da09b1722a3c7f7
http://id.nii.ac.jp/1696/00004320/
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje