Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"transient thermal response curves"'
Publikováno v:
Energies, Vol 13, Iss 10, p 2613 (2020)
In this paper, a non-contact degradation evaluation method for insulated gate bipolar transistor (IGBT) modules is proposed based on eddy current pulsed thermography approach. In non-contact heat excitation procedures, a high-power induction heater i
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a3537165c0ff418bab17333039675f65
Publikováno v:
Energies; Volume 13; Issue 10; Pages: 2613
Energies, Vol 13, Iss 2613, p 2613 (2020)
Energies, Vol 13, Iss 2613, p 2613 (2020)
In this paper, a non-contact degradation evaluation method for insulated gate bipolar transistor (IGBT) modules is proposed based on eddy current pulsed thermography approach. In non-contact heat excitation procedures, a high-power induction heater i
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
SILICON (1876990X); Jul2024, Vol. 16 Issue 11, p4831-4841, 11p
Autor:
Deng, Liting, Li, Te, Wang, Zhenfu, Zhang, Pu, Wu, Shunhua, Liu, Jiachen, Zhang, Junyue, Chen, Lang, Zhang, Jiachen, Huang, Weizhou, Zhang, Rui
Publikováno v:
Electronics (2079-9292); Jan2024, Vol. 13 Issue 1, p203, 14p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 6/21/2024, Vol. 12935, p129351Q-129351Q-11, 1p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Dec1963, Vol. 34 Issue 12, p3550-3555, 6p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Power Electronics; Mar2012, Vol. 27 Issue 3, p1468-1478, 11p
Autor:
Clemente, S.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Power Electronics; 1993, Vol. 8 Issue 4, p337-341, 5p
Autor:
Kim, Jae Min, Kim, Seungtaek, Kang, Sung Bok, Kim, Young Jin, Jeong, Hoon, Lee, Kyeongkyun, Kim, Jongseok, Lee, Sangdon, Suh, Dongsik, Yi, Jeong Hoon, Choi, Yoonho, Jung, Seok Gu, Noh, Minsoo
Publikováno v:
Physica Status Solidi (C); Jul2010, Vol. 7 Issue 7/8, p1801-1803, 3p