Zobrazeno 1 - 10
of 141
pro vyhledávání: '"transient error"'
Publikováno v:
Journal of Work and Organizational Psychology, Vol 38, Iss 3, Pp 241-248 (2022)
To date, experimental research on the effect of faking on personality measures has used two types of designs: within-subject designs and between-subjects designs. None of these designs permit us to control for the effects of transient error on faking
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f472fe79318f4ab78ad3a7168a566601
Autor:
Michael Short
Publikováno v:
Applied Computing and Informatics, Vol 13, Iss 2, Pp 130-139 (2017)
Embedded systems consist of one or more processing units which are completely encapsulated by the devices under their control, and they often have stringent timing constraints associated with their functional specification. Previous research has cons
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/7b183fbda8e1440f8512a40e06a60530
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Benoit, Anne, Le Fèvre, Valentin, Perotin, Lucas, Raghavan, Padma, Robert, Yves, Sun, Hongyang
Publikováno v:
[Research Report] RR-9340, Inria-Research Centre Grenoble – Rhône-Alpes. 2020
[Research Report] RR-9340, Inria-Research Centre Grenoble – Rhône-Alpes. 2021
[Research Report] RR-9340, Inria-Research Centre Grenoble – Rhône-Alpes. 2021
This paper focuses on the resilient scheduling of moldable parallel jobson high-performance computing (HPC) platforms. Moldable jobs allow for choosing aprocessor allocation before execution, and their execution time obeys various speedup models. The
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::250aea526190e8a3dff8aa9082926af1
https://hal.inria.fr/hal-02614215
https://hal.inria.fr/hal-02614215
Autor:
Ashouei, Maryam
In the last two decades, VLSI technology scaling has spurred a rapid growth in the semiconductor industry. With CMOS device dimensions falling below 100 nm, achieving higher performance and packing more complex functionalities into digital integrated
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1853/19859
Autor:
G K Huysamen
Publikováno v:
SA Journal of Industrial Psychology, Vol 32, Iss 4 (2006)
Reliability is conceptually defined in terms of consistency across test occasions but coefficient alpha, the most popular reliability estimation method, precludes the examination of such consistency. Three recent proposals to estimate transient error
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/987da349377b42d5bbe5321309c1e26c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.