Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"timing faults"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 12, Pp 8983-9011 (2024)
Cloud computing environments increasingly provision field-programmable gate arrays (FPGAs) for their programmability and hardware-level parallelism. While FPGAs are typically used by one tenant at a time, multitenant schemes supporting spatial sharin
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3db9a03b82804b69a29655ecc566e0f7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Electrical and Computer Engineering Faculty Publications
DAC
DAC
Early prediction of an upcoming timing violation presents a tremendous opportunity to mask the performance overhead of tolerating these faults. In this paper, we explore several techniques for optimizing instruction scheduling in an Out-of-Order pipe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::854b37f55280896e79d4eadcd1a74066
https://digitalcommons.usu.edu/ece_facpub/258
https://digitalcommons.usu.edu/ece_facpub/258
Autor:
Koushik Chakraborty, Sanghamitra Roy
Publikováno v:
DAC
Electrical and Computer Engineering Faculty Publications
Electrical and Computer Engineering Faculty Publications
In this paper, we present a novel technique for early prediction of timing violations in high-performance pipelined microprocessors. We show that a static instruction in a microprocessor, identified by its Program Counter (PC), is an excellent predic
Autor:
Nicolaidis, M.
Publikováno v:
Proceedings.-International-Test-Conference-2003-IEEE-Cat.-No.03CH37494
Proceedings.-International-Test-Conference-2003-IEEE-Cat.-No.03CH37494, 2003, Charlotte, NC, United States. pp.1282 Vol.1
Proceedings.-International-Test-Conference-2003-IEEE-Cat.-No.03CH37494, 2003, Charlotte, NC, United States. pp.1282 Vol.1
NUMBER OF PAGES: 2 vol. 1549; The fault-tolerant IC design for soft errors and timing faults becomes mandatory for various application domains. Many of these domains cannot afford the high cost of fault tolerant schemes, such as TMR. Due to temporary
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::22a2fe4c5f68787b061689a34bcba7d6
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00013728
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00013728
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.