Zobrazeno 1 - 10
of 141
pro vyhledávání: '"thin film stress"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wenkuan Man, Thomas G. Bifano
Publikováno v:
Micromachines, Vol 14, Iss 4, p 740 (2023)
A common problem in deformable mirror assembly is that the adhesion of actuators to an optical mirror face sheet introduces unwanted topography due to large local stresses generated at the adhesive joint. A new approach to minimizing that effect is d
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/dea5b70e5eed4fd3be5b2b8c9341134a
Publikováno v:
Journal of Advanced Mechanical Design, Systems, and Manufacturing, Vol 15, Iss 4, Pp JAMDSM0042-JAMDSM0042 (2021)
The evaluation of stress and temperature on the tool faces during machining is very important for understanding the fundamental mechanisms of cutting processes, developing cutting tools, optimizing cutting conditions. Although cutting temperature has
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/30da5af7055f41788fc655140e22d4ec
Publikováno v:
Micromachines, Vol 12, Iss 2, p 172 (2021)
In this paper we present a detailed evaluation of a micro-opto-electromechanical system (MOEMS) for active focusing which is realized using an electrostatically deformed thin silicon membrane. The evaluation is done using finite element methods and e
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c5090355c57d4c4e93344a23f0ee2c7f
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 10, Iss 15, p 5285 (2020)
A heterostructure of Sn-doped In2O3 (ITO)/Al-doped ZnO (AZO)/n-Si was proposed and studied for photovoltaics. The top ITO worked as a transparent conducting layer for excellent optical transparency and current collection. The AZO/n-Si served as the a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/edc028e8da51422b85600e72107b3efc
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yiin Kuen Fuh, Walter Lai, Te Yun Lu, Tomi T. Li, Peter J. Wang, Yu Pu Yang, Wei Lun Chen, Hsiao Han Lo
Publikováno v:
Materials; Volume 14; Issue 16; Pages: 4445
Materials, Vol 14, Iss 4445, p 4445 (2021)
Materials
Materials, Vol 14, Iss 4445, p 4445 (2021)
Materials
In this study, we submit a complex set of in-situ data collected by optical emission spectroscopy (OES) during the process of aluminum nitride (AlN) thin film. Changing the sputtering power and nitrogen(N2) flow rate, AlN film was deposited on Si sub
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2cae8737726e12fdf90f424f8aac66dc
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 10, Iss 5285, p 5285 (2020)
Applied Sciences
Volume 10
Issue 15
Applied Sciences
Volume 10
Issue 15
A heterostructure of Sn-doped In2O3 (ITO)/Al-doped ZnO (AZO)/n-Si was proposed and studied for photovoltaics. The top ITO worked as a transparent conducting layer for excellent optical transparency and current collection. The AZO/n-Si served as the a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a7c66d09ce11cd8a12dd6355bf895bdf
https://www.mdpi.com/2076-3417/10/15/5285
https://www.mdpi.com/2076-3417/10/15/5285