Zobrazeno 1 - 10
of 541
pro vyhledávání: '"thermal laser stimulation"'
Autor:
Krachenfels, Thilo, Lohrke, Heiko, Seifert, Jean-Pierre, Dietz, Enrico, Frohmann, Sven, Hübers, Heinz-Wilhelm
Recent attacks using thermal laser stimulation (TLS) have shown that it is possible to extract cryptographic keys from the battery-backed memory on state-of-the-art field-programmable gate arrays (FPGAs). However, the professional failure analysis mi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2006.06290
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Photonics, Vol 10, Iss 5, p 540 (2023)
Locating the fault position is a crucial part of the failure mechanism analysis of integrated circuits. This paper proposes a hard defect locating system based on Thermal Laser Stimulation (TLS) technology. The equation for laser-induced changes in t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9856a9432e41451fa9530a848cffd5d8
Autor:
Herfurth, N., Wu, C., Beyreuther, A., Nakamura, T., De Wolf, I., Simon-Najasek, M., Altmann, F., Croes, K., Boit, C.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2019 92:73-78
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:188-193
Publikováno v:
Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems, Vol 2018, Iss 3 (2018)
Thermal laser stimulation (TLS) is a failure analysis technique, which can be deployed by an adversary to localize and read out stored secrets in the SRAM of a chip. To this date, a few proof-of-concept experiments based on TLS or similar approaches
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5f100a8d27914d6f847b31ff4267741c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heiko Lohrke, Jean-Pierre Seifert, Thilo Krachenfels, Enrico Dietz, Heinz-Wilhelm Hübers, Sven Frohmann
Publikováno v:
Journal of Hardware and Systems Security. 4:24-33
Recent attacks using thermal laser stimulation (TLS) have shown that it is possible to extract cryptographic keys from the battery-backed memory on state-of-the-art field-programmable gate arrays (FPGAs). However, the professional failure analysis mi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::bcdf0422706b86ef4426fc61eeaf30d8
https://doi.org/10.1007/s41635-019-00083-9
https://doi.org/10.1007/s41635-019-00083-9
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 10, Iss 23, p 8576 (2020)
Thermal Laser Stimulation (TLS) is an efficient technology for integrated circuit defect localization in Failure Analysis (FA) laboratories. It contains Optical Beam-Induced Resistance Change (OBIRCH), Thermally-Induced Voltage Alteration (TIVA), and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/990a5ef0d0c24cd38b4249e5228f0df8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.