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pro vyhledávání: '"testabilité"'
Autor:
Burel, Stéphane
Publikováno v:
Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université Grenoble Alpes [2020-..], 2022. English. ⟨NNT : 2022GRALT095⟩
Neural networks are increasingly used in mission critical systems such as those used in autonomous vehicles. These systems must comply with functional safety standards; therefore, it is essential to ensure they operate correctly in the presence of ha
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3515::c912030a5e27c941550d5b177ee4a86d
https://theses.hal.science/tel-04020816
https://theses.hal.science/tel-04020816
Autor:
El Belghiti Alaoui, Nabil
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse, 2020. Français
National audience; In production test strategies are currently based on optical inspection (AOI), X-ray inspection (AXI), electrical (ICT) and functional (FT) tests.Due to the multiplication and miniaturization of electrical components, the coexisten
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::4e82b874e82b6bec16f1d90f9d670030
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
Autor:
El Belghiti Alaoui, Nabil
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse, 2020. Français
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. INSA de Toulouse, 2020. Français. ⟨NNT : 2020ISAT0018⟩
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. INSA de Toulouse, 2020. Français. ⟨NNT : 2020ISAT0018⟩
Until today, the production tests are based mainly on optical verification (AOI), X-ray inspection (AXI), electrical (ICT) and functional tests. Faced with the miniaturization of component packages, the high densification and integration of several t
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1f01a5c765e10469dbf5aa187b88ce2c
https://hal.laas.fr/tel-03162010/document
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Autor:
Dumont, Léa
Publikováno v:
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques, Oct 2020, Le Havre (e-congrès), France
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques, Oct 2020, Le Havre (e-congrès), France
International audience; Cet article présente une réflexion sur la testabilité appliquée au MBSE. L'approche permet d'embarquer sur un système automatisé voire autonome des logiques de comportement résilient face aux défaillances techniques, m
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::ba3ef11efd5a0cc73c64eebb0ae12282
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03462955
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03462955
Autor:
Karel, Amit
Deux innovations en matière de procédés technologiques des semi-conducteurs sont des alternatives à la technologie traditionnelle des transistors MOS (« Metal-Oxide-Semiconductor ») « Bulk » planaires : d’une part le silicium totalement dé
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2017MONTS084/document
Autor:
Wagner, Pierre
Publikováno v:
Testabilité et signification
Pierre Wagner. Testabilité et signification, Vrin, pp.7-53, 2015, Rudolf Carnap, Testabilité et signification, 978-2-7116-2609-0
Pierre Wagner. Testabilité et signification, Vrin, pp.7-53, 2015, Rudolf Carnap, Testabilité et signification, 978-2-7116-2609-0
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f07aed257613435f396c38272c748b43
https://halshs.archives-ouvertes.fr/halshs-01197119
https://halshs.archives-ouvertes.fr/halshs-01197119
Autor:
Wagner, Pierre, Benétreau-Dupin, Yann
Publikováno v:
Pierre Wagner. Vrin, 2015, Rudolf Carnap, Testabilité et signification, 978-2-7116-2609-0
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0b6382daa57ca3a6aa7e2c95bdcf4b90
https://halshs.archives-ouvertes.fr/halshs-01197115
https://halshs.archives-ouvertes.fr/halshs-01197115
Autor:
Jean-Marie Dufour
Publikováno v:
Canadian Journal of Economics/Revue Canadienne d`Economique. 36:767-808
We discuss statistical inference problems associated with identification and testability in econometrics, and we emphasize the common nature of the two issues. After reviewing the relevant statistical notions, we consider in turn inference in nonpara
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b0be2a01caf84eeec3a58672cbb753f1
https://doi.org/10.1111/1540-5982.t01-3-00001
https://doi.org/10.1111/1540-5982.t01-3-00001
Autor:
François Schwartz, Anthony Bozier, Pascal Nouet, Beatrice Pradarelli, Luc Hebrard, Laurent Latorre, Régis Lorival
Publikováno v:
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, EDP Sciences, 2014, 13, ⟨10.1051/j3ea/2014009⟩
Actes des 12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012)
12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012)
12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012), Nov 2012, Saint Malo, France. pp. 45-50
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2014, 13, ⟨10.1051/j3ea/2014009⟩
HAL
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, EDP Sciences, 2014, 13, ⟨10.1051/j3ea/2014009⟩
Actes des 12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012)
12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012)
12èmes Journées Pédagogiques du CNFM (JPCNFM 2012), Nov 2012, Saint Malo, France. pp. 45-50
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2014, 13, ⟨10.1051/j3ea/2014009⟩
HAL
National audience; La filière master à spécialité micro-nano électronique de l'université de Strasbourg propose un enseignement pratique de la testabilité de circuits intégrés mixtes analogique-numérique. Une séquence pédagogique est pré
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::19b46c151cdebecab560bae27fb1a63e
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01768936
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01768936
De nos jours, les mémoires embarquées sont les composants les plus denses dans les "System-On-Chips" (SOCs), représentant actuellement plus que 90% de leur superficie totale. Parmi les différents types de mémoires, les SRAMs sont très largement
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http://www.theses.fr/2013MON20080