Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"test coverage metrics"'
Autor:
Jihyun Lee
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 13, Iss 23, p 12670 (2023)
Product line testing is significant because any faults in a product line platform can lead to widespread impacts on multiple products configured from that platform within a product line. Due to the shared platform, certain testing can be repeatedly p
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4db2180453134a0681a6b360fe7fd019
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.