Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"terrestrial cosmic rays"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability, 138
TCAD simulation of the generation and transport of ionization tracks produced in semiconductors by ions is very relevant for device reliability, as well for the design of radiation detectors. This paper presents a unified model calibrated and validat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::80cc702a9aa51c60691e1d6cf0ec1159
https://hdl.handle.net/20.500.11850/583898
https://hdl.handle.net/20.500.11850/583898
Autor:
Jean-Luc Autran, Daniela Munteanu
Publikováno v:
Numerical Simulations in Engineering and Science
Numerical Simulations in Engineering and Science, InTech, 2018, ⟨10.5772/intechopen.71528⟩
Numerical Simulations in Engineering and Science, InTech, 2018, ⟨10.5772/intechopen.71528⟩
International audience; New semiconductor materials are envisaged in numerous high-performance applications for which the expected device or circuit performances cannot be achieved with silicon. In this context of growing use of new and specific semi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::195811e21a640daacc1248d1897abb18
https://doi.org/10.5772/intechopen.71528
https://doi.org/10.5772/intechopen.71528
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 64, pp.68-72. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.138⟩
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.68-72. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.138⟩
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 64, pp.68-72. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.138⟩
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.68-72. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.138⟩
International audience; In Charged Coupled Devices (CCDs), radiation-induced events generate electron hole pairs in silicon that cause artifacts and contribute to degrade image quality. In this work, the impact of natural radiation at ground level ha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2fa8e975fb4bf848e84a5020b5818001
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01427855/document
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01427855/document
Autor:
Tsiligiannis, Georgios, Dilillo, Luigi, Bosio, Alberto, Girard, Patrick, Pravossoudovitch, Serge, Virazel, Arnaud, Cocquerez, Philippe, Autran, Jean-Luc, Litterio, Antonio, Wrobel, Frédéric, Saigné, Frédéric
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (6), pp.3380-3388. ⟨10.1109/TNS.2014.2365038⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 61 (6), pp.3380-3388. ⟨10.1109/TNS.2014.2365038⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2014, 61 (6), pp.3380-3388. ⟨10.1109/TNS.2014.2365038⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 61 (6), pp.3380-3388. ⟨10.1109/TNS.2014.2365038⟩
International audience; In this work, we used a commercial charge-coupled device (CCD) camera to detect and monitor terrestrial cosmic rays at ground level. Multi-site characterization has been performed at sea level (Marseille), underground (Modane
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::48a321a8d4b94b3c67b4aa443183595e
https://hal.science/hal-04056448
https://hal.science/hal-04056448
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.