Zobrazeno 1 - 10
of 1 661
pro vyhledávání: '"synchrotron radiation source"'
Autor:
Nikita Marchenkov, Evgenii Mareev, Anton Kulikov, Fedor Pilyak, Eduard Ibragimov, Yuri Pisarevskii, Fedor Potemkin
Publikováno v:
Optics, Vol 5, Iss 1, Pp 1-10 (2024)
The synchronization of laser and X-ray sources is essential for time-resolved measurements in the study of ultrafast processes, including photo-induced piezo-effects, shock wave generation, and phase transitions. On the one hand, optical diagnostics
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1999a2faa74d42f590d0709e7b32e209
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
V. G. Nazin, M. B. Tsetlin, K. A. Menshikov, V.G. Stankevich, Ratibor G. Chumakov, A. M. Lebedev
Publikováno v:
Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 15:1039-1044
The NanoPES photoelectron beamline installed at the Kurchatov Synchrotron Radiation Source is presented. The beamline uses bending magnet radiation of the Sibirea-2 storage ring, and includes grazing incidence monochromator with plane gratings for ph
Publikováno v:
Российский технологический журнал, Vol 9, Iss 1, Pp 38-47 (2021)
The investigations of multilayer surface nanostructures characteristics was performed with synchrotron radiation sources, characterized by an intensive, calculated continuum. It plays an important role in nanoelectronics metrological base. The main r
Autor:
Gilbert André Chahine, Nils Blanc, Stephan Arnaud, Frédéric De Geuser, René Guinebretière, Nathalie Boudet
Publikováno v:
Metals, Vol 9, Iss 3, p 352 (2019)
The ability to non-destructively measure the structural properties of devices, either in situ or operando, are now possible using an intense X-ray synchrotron source combined with specialized equipment. This tool attracted researchers, in particular
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5bfb116c07f4417b9c2d4a3845a36ba0