Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"sxfel"'
Publikováno v:
He jishu, Vol 46, Iss 5, Pp 050203-050203 (2023)
BackgroundThe SXFEL (Soft X-ray Free-Electron Laser facility) is the first X-ray coherent light source in China. To monitor the beam loss in its undulator beamline, a quartz fiber beam loss monitoring system based on the Cherenkov radiation principle
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f48e53bf553f488d94ddc23106cfe59b
Autor:
Bo Liu, Chao Feng, Duan Gu, Fei Gao, Haixiao Deng, Meng Zhang, Sen Sun, Si Chen, Wei Zhang, Wencheng Fang, Zhen Wang, Qiaogen Zhou, Yongbin Leng, Ming Gu, Lixin Yin, Qiang Gu, Guoping Fang, Dong Wang, Zhentang Zhao
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 12, Iss 1, p 176 (2021)
The Shanghai soft X-ray Free-Electron Laser facility (SXFEL), which is the first X-ray FEL facility in China, is being constructed in two phases: the test facility (SXFEL-TF) and the user facility (SXFEL-UF). The test facility was initiated in 2006 a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/770adbedd49b4b129d6a38e18a3d7cfd
Publikováno v:
He jishu, Vol 44, Iss 4, Pp 040101-040101 (2021)
BackgroundBunch charge is the most fundamental characteristic parameter of the particle beam. The Shanghai Soft X-ray Free Electron Laser Device Facility (SXFEL) needs to add a charge feedback loop to accurately control the bunch charge and the resol
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/eca6d299493545969730bb4a2dde6e74
Autor:
Bo Liu, Chao Feng, Duan Gu, Fei Gao, Haixiao Deng, Meng Zhang, Sen Sun, Si Chen, Wei Zhang, Wencheng Fang, Zhen Wang, Qiaogen Zhou, Yongbin Leng, Ming Gu, Lixin Yin, Qiang Gu, Guoping Fang, Dong Wang, Zhentang Zhao
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 12, Iss 176, p 176 (2022)
The Shanghai soft X-ray Free-Electron Laser facility (SXFEL), which is the first X-ray FEL facility in China, is being constructed in two phases: the test facility (SXFEL-TF) and the user facility (SXFEL-UF). The test facility was initiated in 2006 a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::684e1a811048a377964044eeb865daff
https://www.mdpi.com/2076-3417/12/1/176
https://www.mdpi.com/2076-3417/12/1/176
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 7, Iss 6, p 607 (2017)
The Shanghai soft X-ray Free-Electron Laser facility (SXFEL) is being developed in two steps; the SXFEL test facility (SXFEL-TF), and the SXFEL user facility (SXFEL-UF). The SXFEL-TF is a critical development step towards the construction a soft X-ra
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/5e58133511ad41e6ada84e09ddb111b4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.