Zobrazeno 1 - 10
of 92
pro vyhledávání: '"superconducting epitaxial layers"'
Autor:
Klimov, A.1 aklimov@ite.waw.pl, Słysz, W.1, Guziewicz, M.1, Kolkovsky, V.2, Zaytseva, I.2, Malinowski, A.2
Publikováno v:
Physica C. May2017, Vol. 536, p35-38. 4p.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 117 Issue 9, p093908-1-093908-6, 6p, 7 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pasqualina M. Sarro, S. Visser, J. A. Alfaro-Barrantes, David J. Thoen, Jochem J. A. Baselmans, Massimo Mastrangeli, J. Bueno
Publikováno v:
IEEE Journal of Microelectromechanical Systems, 30(2)
This paper describes the microfabrication and electrical characterization of aluminum-coated superconducting through-silicon vias (TSVs) with sharp superconducting transition above 1 K. The sharp superconducting transition was achieved by means of fu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b7984b47c7d7ff430d535c385847ae9a
https://doi.org/10.1109/jmems.2021.3049822
https://doi.org/10.1109/jmems.2021.3049822
Publikováno v:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity. 32(4)
We experimentally studied the thermal runawayinitiating at a low critical current ( I c ) part. This low I c part is determined by the combination of two reasons in a real coil: (a) the unavoidable defects caused by the manufacturing process, which r
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ec35820610d69ae2c52ee7ba1bdfbb71
http://hdl.handle.net/2433/274522
http://hdl.handle.net/2433/274522