Zobrazeno 1 - 10
of 86
pro vyhledávání: '"step stress test"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 77419-77425 (2019)
Electrical aging limits the reliability of crosslinked polyethylene DC cable. The study on the reaction kinetics of electrical aging is an important basis of improving the reliability of DC cable. Free energy increment (FEI) under electric field refl
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c4c2d6ef4c9b44169d92e995b0b107f1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Firoozeh Haghighi
Publikováno v:
International Journal of Quality & Reliability Management, 2015, Vol. 32, Issue 8, pp. 906-920.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/IJQRM-05-2015-0081
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 77419-77425 (2019)
Electrical aging limits the reliability of crosslinked polyethylene DC cable. The study on the reaction kinetics of electrical aging is an important basis of improving the reliability of DC cable. Free energy increment (FEI) under electric field refl
Publikováno v:
Materials, Vol 10, Iss 10, p 1181 (2017)
By solving the problem of very long test time on reliability qualification for Light-emitting Diode (LED) products, the accelerated degradation test with a thermal overstress at a proper range is regarded as a promising and effective approach. For a
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/629a75ee6c9e4b12a362b4b38d0b5216
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials, 10(10)
Materials
Materials; Volume 10; Issue 10; Pages: 1181
Materials, Vol 10, Iss 10, p 1181 (2017)
Materials
Materials; Volume 10; Issue 10; Pages: 1181
Materials, Vol 10, Iss 10, p 1181 (2017)
By solving the problem of very long test time on reliability qualification for Light-emitting Diode (LED) products, the accelerated degradation test with a thermal overstress at a proper range is regarded as a promising and effective approach. For a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f67abcba82e8b152a64a58f78e78f0e0
http://resolver.tudelft.nl/uuid:70bdeffb-22dd-4b9f-bf7c-4a8a24ed902c
http://resolver.tudelft.nl/uuid:70bdeffb-22dd-4b9f-bf7c-4a8a24ed902c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.