Zobrazeno 1 - 10
of 949
pro vyhledávání: '"soft X-ray optics"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Xujie Tong, Yifang Chen, Chengyang Mu, Qiucheng Chen, Xiangzhi Zhang, Guang Zeng, Yu-Chun Li, Zijian Xu, Jun Zhao, Xiangjun Zhen, Chengwen Mao, Hongliang Lu, Renzhong Tai
X-ray microscope as an important nanoprobing tool is expected to play a powerful role in nano-inspections of materials. Despite the fast advances of high resolution focusing/imaging reported, the diffraction efficiency of existing binary zone plates
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bb8df7654be9c3bb34f29ac4023d7876
https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-1353055/v1
https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-1353055/v1
Autor:
Gianpiero Tagliaferri, Daniele Spiga, Stefano Basso, Claudio Ferrari, Enrico Giro, Bianca Salmaso, Riccardo Lolli, Giovanni Pareschi
Publikováno v:
Advances in X-Ray/EUV Optics and Components XVI.
A new type of x-ray facility, the Beam Expander Testing x-ray facility (BEaTriX), has been designed and is now under construction at INAF– Osservatorio Astronomico di Brera (Merate, Italy) to perform the acceptance tests of the silicon pore optics
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::181ab530f1412aaa612bcec8f05e76a4
https://doi.org/10.1117/12.2595143
https://doi.org/10.1117/12.2595143
Autor:
Ying, Xuantong *, Luo, Jinlong, Wang, Peinan, Cui, Mingqi, Zhao, Yidong, Li, Gang, Zhu, Peiping
Publikováno v:
In Diamond & Related Materials 2003 12(3):719-722
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 5/15/1989, Vol. 65 Issue 10, p3907. 7p. 10 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
OSA High-brightness Sources and Light-driven Interactions Congress 2020 (EUVXRAY, HILAS, MICS).
We report on the construction and operation of the laboratory-scaled soft X-ray reflectometer at the Institute of Applied Photonics e.V. in Berlin. With a µ m-sized source and flexible high-precision mechanics, the competitive capabilities range fro
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::82930a87de5b8e1b4d75edf41b5b4bc6
https://doi.org/10.1364/euvxray.2020.eth1a.3
https://doi.org/10.1364/euvxray.2020.eth1a.3