Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Zachovat současné nastavení filtrů
EXPAND:"fulltext"
Domovská stránka
Vyhledávání: "skenovací mikroskopie"
Navrhnout nákup titulu
Zobrazeno
1
-
10
of
26
pro vyhledávání:
'"skenovací mikroskopie"'
Řazení
od nejnovějšího
Podle data vzestupně
podle relevance
Vybrat vše | Vybrané výsledky:
Poslat e-mailem
Exportovat
Vytisknout
Vybrat výsledek číslo 1
1
Kniha
Analýza referenčních povrchových vad optických ploch za použítí konfokální mikroskopie, interferometrie v bílém světle a mikroskopie atomárních sil / Michal Špína, František Procháska, Jiří Junek, Kristýna Malá.
Autor:
Špina, Michal
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 2
2
Kniha
Fotoluminiscence h-BN detekovaná pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli / Petr Dvořák, Miroslav Kolíbal, Jiří Spousta a Tomáš Šikola.
Autor:
Dvořák, Petr
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 3
3
Kniha
Vývoj univerzálního záření pro rastrovací sondové mikroskopy = Development of universal controll electronics for scanning probe microscope / Dalibor Šulc ... [et al.].
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 4
4
Kniha
Zobrazení polovodičových struktur metodou mikrovlnné skenovací mikroskopie = Imaging of semiconductive structures by scanning microwave microscopy / Milan Navrátil ... [et al.].
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 5
5
Kniha
Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology / Petr Klapetek.
Autor:
Klapetek, Peter
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 6
6
Kniha
Atomic and molecular manipulation / edited by Andrew J. Mayne and Gérald Dujardin.
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 7
7
Kniha
Mezinárodní tým vědců posouvá možnosti zobrazování jednotlivých atomů pomocí rastrovacích mikroskopů.
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 8
8
Kniha
Principy některých nanofotonických zařízení s kovovými krystaly = Principles of some nanophotonic devices with metallic crystals / Jaroslav Pospíšil, Jan Hrdý, Jan Hrdý, jr.
Autor:
Pospíšil, Jaroslav
, 1935-2011
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 9
9
Kniha
Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacích elektronových mikroskopech : Secondary electron images in the scanning electron microscopes / Ivo Konvalina, Ilona Müllerová.
Autor:
Konvalina, Ivo
, 1979-
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 10
10
Kniha
Artefakty v rastrovací optické mikroskopii v blízkém poli = Artefact in near-field scanning optical microscopy / Petr Klapetek, Jiří Buršík.
Autor:
Klapetek, Petr
načítá se...
Vybrat vše | Vybrané výsledky:
Poslat e-mailem
Exportovat
Vytisknout
1
2
3
Další »
[3]
Vyhledávací nástroje:
RSS
Poslat e-mailem
Upřesnit hledání
Omezení vyhledávání
Plný text
Recenzováno
Digitální knihovna AV ČR
Zdroje
Pouze tištěné dokumenty
Zahrnout EIZ
Typ dokumentu
25
Knihy
1
Dissertations
Předmět
21
clanky
21
journal articles
4
microscopes
4
mikroskopy
2
optics
2
optika
2
povrchy
2
reports
2
surfaces
2
zpravy
1
afm
1
amplifiers
1
artefacts (archaeology)
1
artefakty (archeologie)
1
atomically clean surfaces
1
atomove ciste povrchy
1
auger spectroscopy
1
augerova spektroskopie
1
blizke pole
1
brno (cesko)
1
brno (czechia)
1
calibration
1
capacitance transducer
1
collections of works
1
confocal laser scanning microscopy
1
confocal microscopy
1
crystallography
1
data processing
1
elektrostaticke a magneticke pole
1
et detektor
1
fotoluminiscence
1
fotonova optika
1
fyzika povrchu pevnych latek
1
grafen
1
graphene
1
gxsm
1
h-bn
1
hexagona boron nitride
1
hexagonalni nitrid bority
1
high-voltage aplifier
1
hodnoceni optickeho povrchu
1
i/v converter
1
index lomu
1
in-situ
1
international conferences
1
kalibrace
1
konfokalni mikroskopie
1
krystalografie
1
kvalitativni vyzkum
1
kvantova optika
Vydavatel
1
elsevier
1
vysoke uceni technicke v brne. fakulta strojniho inzenyrstvi
1
william andrew is an imprint of elsevier
Publikováno v
7
jemna mechanika a optika : veda - vyzkum - technologie - realizace : technicky oborovy casopis = fine mechanics and optics
6
ceskoslovensky casopis pro fyziku : zalozen r. 1872 jako casopis pro pestovani matematiky a fysiky
5
jemna mechanika a optika
5
jemna mechanika a optika : veda - vyzkum - technologie - realizace : technicky oborovy casopis
Zdroj
25
Katalog Knihovny AV ČR
1
Networked Digital Library of Theses & Dissertations
Geografie
1
brno (cesko)
1
brno (czechia)
Umístění
23
Baze Knava - Analytika
2
Knav
Rok vydání
Od:
do:
×
načítá se......
