Zobrazeno 1 - 10
of 87
pro vyhledávání: '"silicon semiconductor"'
Autor:
Subash C.B. Gopinath, Santheraleka Ramanathan, Mohd Najib Mohd Yasin, Mohd Ibrahim Shapiai Razak, Zool Hilmi Ismail, Syahrizal Salleh, Zaliman Sauli, M.B. Malarvili, Sreeramanan Subramaniam
Publikováno v:
Journal of Materials Research and Technology, Vol 21, Iss , Pp 3451-3461 (2022)
Defects of silicon (Si) semiconductor epilayers are crucial to be identified at laboratory environs. The identification of failure and its rectification at laboratory settings is essential for large-scaling manufacturing of narrowed down semiconducto
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9dfa890cb904450695577f296197038e
Autor:
P. Maleki, Gh.R. Etaati
Publikováno v:
مجله علوم و فنون هستهای, Vol 41, Iss 3, Pp 37-44 (2020)
The accuracy of each simulating beta-voltaic battery parameter is very important, especially in micro-batteries. The aim of this study is to improve the calculation of beta-battery parameters’ accuracy. For this purpose, at first, using the Monte C
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0aabd8cb3b2f46a2a529cc6542396a15
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Emma Verelst, Nico Buls, Johan De Mey, Koenraad Hans Nieboer, Frans Vandenbergh, Dominic Crotty, Paul Deak, Albert Sundvall, Staffan Holmin, Aron De Smet, Steven Provyn, Gert Van Gompel
Publikováno v:
European Radiology Experimental. 7
Background In this study, stent appearance in a novel silicon-based photon-counting computed tomography (Si-PCCT) prototype was compared with a conventional energy-integrating detector CT (EIDCT) system. Methods An ex vivo phantom was created, consis
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a2edfdd8f945465acd15d81c8e03db2f
https://doi.org/10.1186/s41747-023-00333-0
https://doi.org/10.1186/s41747-023-00333-0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In this cumulative dissertation organic-inorganic hybrid interfaces with relevance for nanoelectronic applications are investigated with theoretical methods. An emphasis is put on the elucidation of interface reaction mechanisms and the employment of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c4482709098fbf493be6d6fda9370bde
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.