Zobrazeno 1 - 10
of 237
pro vyhledávání: '"scanning microwave microscopy"'
Autor:
Marie Garnier, Eric Lesniewska, Virgil Optasanu, Bruno Guelorget, Pascal Berger, Luc Lavisse, Manuel François, Irma Custovic, Nicolas Pocholle, Eric Bourillot
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 14, Iss 7, p 628 (2024)
Conventional techniques that measure the concentration of light elements in metallic materials lack high-resolution performance due to their intrinsic limitation of sensitivity. In that context, scanning microwave microscopy has the potential to sign
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/19eac27543794c88814ba73c388506eb
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Peter H. Siegel
Publikováno v:
IEEE Journal of Microwaves, Vol 1, Iss 4, Pp 838-852 (2021)
If the Twentieth Century boasted of the Space Age and the Computer Age, the Twenty-First Century is certainly starting off with the Age of Biology, or at least Biochemistry. The enormous impact of CRISPR (clustered regularly interspaced short palindr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6fd14690f9574160a5ef518c7b25ba93
Publikováno v:
Acta Polytechnica CTU Proceedings, Vol 27, Iss 0, Pp 42-47 (2020)
Whichever the application field, every material forming process generates residual stresses on the surface. While they are likely to enhance the aimed properties of the final mechanical part, these stresses may also drastically reduce them and result
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fbaba9a7ff9140c7bdffb459cde5fdfc
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
C. H. Joseph, Francesca Luzi, S. N. Afifa Azman, Pietro Forcellese, Eleonora Pavoni, Gianluca Fabi, Davide Mencarelli, Serena Gentili, Luca Pierantoni, Antonio Morini, Michela Simoncini, Tiziano Bellezze, Valeria Corinaldesi, Marco Farina
Publikováno v:
Sensors, Vol 22, Iss 24, p 9608 (2022)
Scanning microwave microscopy (SMM) is a novel metrological tool that advances the quantitative, nanometric, high-frequency, electrical characterization of a broad range of materials of technological importance. In this work, we report an inverted ne
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/aae0aeb681274563a5c066427e545ae2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.