Zobrazeno 1 - 10 of 75 434 pro vyhledávání: '"scanning electron micrograph"'
1
Akademický článek
Replacing critical point drying with a low-cost chemical drying provides comparable surface image quality of glandular trichomes from leaves of Millingtonia hortensis L. f. in scanning electron micrograph
Autor: Raktim Bhattacharya, Sulagna Saha, Olga Kostina, Lyudmila Muravnik, Adinpunya Mitra
Publikováno v: Applied Microscopy, Vol 50, Iss 1, Pp 1-6 (2020)
Abstract Sample preparation including dehydration and drying of samples is the most intricate part of scanning electron microscopy. Most current sample preparation protocols use critical-point drying with liquid carbon dioxide. Very few studies have
Externí odkaz: https://doaj.org/article/3c6d7b9a083d451294d7e11294d58e61
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje