Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"responsible mechanisms"'
Autor:
Emilija Živanović, Sandra Veljković, Nikola Mitrović, Igor Jovanović, Snežana Djorić-Veljković, Albena Paskaleva, Dencho Spassov, Danijel Danković
Publikováno v:
Micromachines, Vol 15, Iss 4, p 503 (2024)
This study aimed to comprehensively understand the performance and degradation of both p- and n-channel vertical double diffused MOS (VDMOS) transistors under bias temperature stress. Conducted experimental investigations involved various stress cond
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4c38e9ee2e2f4aa592f53f50b5da0cb7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.