Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"resistance temperature detector (RTD)"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2021 23rd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC): Proceedings
2021 23rd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC)
2021 23rd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC)
This paper focuses on the design and fabrication of a new programmable thermal test chip as a flexible and cost-effective solution for simplification of characterization/prototyping of new packages. The cell-based design format makes the chip fit int
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Back, D., Drummond, K. P., Sinanis, M. D., Weibel, J. A., Garimella, S V, Peroulis, D., Janes, D. B.
Publikováno v:
CTRC Research Publications
High-heat-flux removal is critical for the nextgeneration electronic devices to reliably operate within their temperature limits. A large portion of the thermal resistance in a traditional chip package is caused by thermal resistances at interfaces b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______540::60c6ba85d249179e7ef4425d9332b7d4
https://docs.lib.purdue.edu/coolingpubs/346
https://docs.lib.purdue.edu/coolingpubs/346
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.