Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"reflect standard"'
Autor:
Jin-Seob Kang
Publikováno v:
Journal of Electromagnetic Engineering and Science, Vol 22, Iss 6, Pp 656-664 (2022)
The scattering parameters of a material under test (MUT) are prerequisites for characterizing the material parameters of the MUT. This paper describes a free-space two-tier one-port calibration method using a planar offset short as a free-space calcu
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9daf243321a64809b17193b88ecf68f8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.