Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"radioactive reliability"'
Publikováno v:
Nuclear Technology and Radiation Protection, Vol 31, Iss 3, Pp 240-246 (2016)
The aim of this paper is examining a radiation hardness of the magnetic (Toshiba MK4007 GAL) and semiconductor (AT 27C010 EPROM and AT 28C010 EEPROM) computer memories in the field of radiation. Magnetic memories have been examined in the field of
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/83df6f9915374014912ba6ed207f2f7a
Publikováno v:
Nuclear Technology and Radiation Protection, Vol 31, Iss 3, Pp 240-246 (2016)
The aim of this paper is examining a radiation hardness of the magnetic (Toshiba MK4007 GAL) and semiconductor (AT 27C010 EPROM and AT 28C010 EEPROM) computer memories in the field of radiation. Magnetic memories have been examined in the field of ne
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f9c4835d9f4bf71d3d3c7fae97365145
https://doi.org/10.2298/ntrp1603240f
https://doi.org/10.2298/ntrp1603240f
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes and Review Papers
In this study, we examine the reliability of erasable programmable read only memory (EPROM) and electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) components under the influence of gamma radiation. This problem has significance in military
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::849b01db36ac4d3839d78d1bb9abe8c3
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2427
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/2427
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.