Zobrazeno 1 - 10
of 202
pro vyhledávání: '"radiation hardness assurance"'
Autor:
Luigi Campajola, Pierluigi Casolaro, Elisa Maria Gandolfo, Marcello Campajola, Salvatore Buontempo, Francesco Di Capua
Publikováno v:
Physics, Vol 4, Iss 2, Pp 409-420 (2022)
The study of the effects of the radiation dose on devices and materials is a topic of high interest in several fields, including radiobiology, space missions, microelectronics, and high energy physics. In this paper, a new method, based on radiochrom
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cb1a35435bc14eac9b06795550a20b46
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hugo Cintas, Frédéric Wrobel, Marine Ruffenach, Damien Herrera, Frédéric Saigné, Athina Varotsou, Françoise Bezerra, Julien Mekki
Publikováno v:
Aerospace; Volume 10; Issue 3; Pages: 295
The device downscaling of electronic components has given rise to the need to consider specific failures in onboard airplane electronics. Single Event Effects (SEE) are a kind of failures that occur due to radiation in the atmosphere. For the purpose
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::56c5dec629f130f0a98684dac974771b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.