Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"qplus sensors"'
Autor:
Laurent Nony, Sylvain Clair, Daniel Uehli, Aitziber Herrero, Jean-Marc Themlin, Andrea Campos, Franck Para, Alessandro Pioda, Christian Loppacher
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 15, Iss 1, Pp 580-602 (2024)
Non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) offers a unique experimental framework for topographical imaging of surfaces with atomic and/or sub-molecular resolution. The technique also permits to perform frequency shift spectroscopy to quantitativel
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e2de0e28a54a46db96cef5933e173d6c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.