Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"pseudo-Voigt profiles"'
Autor:
Matthew R. Phillips, C.E. Nockolds, Guy Remond, Claude Roques-Carmes, Michel Fialin, Robert L. Myklebust
Publikováno v:
Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology
Line shapes of atomic lines and soft x-ray emission bands measured with a wavelength dispersive spectrometer (WDS) with the Electron Probe Micro Analyzer (EPMA) are reviewed. Least square fitting to pseudo-Voigt profiles of the digitally measured spe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::84d5871f430991af909bae8c5000c542
http://europepmc.org/articles/PMC4863852
http://europepmc.org/articles/PMC4863852
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.