Zobrazeno 1 - 10
of 119
pro vyhledávání: '"process scaling"'
Publikováno v:
Additive Manufacturing Letters, Vol 2, Iss , Pp 100032- (2022)
In this work we explore the wire and arc additive manufacturing (WAAM) process scale limits by using a wire diameter of 250 µm and about 2 mm stickout. This WAAM variant, named µ-WAAM, aims at competing with laser powder bed fusion technology, by e
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/548345726c35429baa7cef5d3f9b4a49
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Low Power Electronics and Applications, Vol 4, Iss 3, Pp 231-251 (2014)
Scratchpad memories have been shown to reduce power consumption, but the different characteristics of nanometer scale processes, such as increased leakage power, motivate an examination of how the benefits of these memories change with process scalin
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2b91a0de57974bcebd60f1afd135175d
Publikováno v:
Industrial & Engineering Chemistry Research. 60:1774-1783
The concept of coabsorption of NO2 and SO2 from flue gases, in combination with the enhanced oxidation of NO by ClO2(g), is studied on three scales, 0.2, 100, and 400 N m3/h, all with flue gases of...
Publikováno v:
IEEE Open Journal of the Solid-State Circuits Society. 1:149-161
The Noise-Shaping (NS) SAR is an attractive new ADC architecture that emerged in the last decade. It combines the advantages of the SAR and the DSM architectures. NS SAR shows excellent potential for high efficiency and low cost, and is highly suited
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Solar Energy. 209:21-29
Perovskite solar cells have achieved tremendous progress reaching record efficiency in the past 5 years. Numerous new processes and chemistry have been reported and contribute to the rapid progress. Continuous efficiency improvements are still necess
Publikováno v:
2021 43rd Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD).
We demonstrate a Monte Carlo-based simulation flow that can be used to obtain an estimation of the failure probability of an I/O circuit during ESD testing. We show how this probability can be used as an objective metric to evaluate changes in ESD pe
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zi Wen, Rafi M. Saied
Publikováno v:
International Journal of Modeling and Optimization. 9:87-91