Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"power-aware testing"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Touati, A., Bosio, A., Dilillo, L., Girard, P., Virazel, A., Bernardi, Paolo, Matteo Sonza Reorda
Publikováno v:
Politecnico di Torino-IRIS
18th Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
DATE: Design, Automation and Test in Europe
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2015, Grenoble, France. pp.1277-1280, ⟨10.7873/DATE.2015.1031⟩
Scopus-Elsevier
18th Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition
DATE: Design, Automation and Test in Europe
DATE: Design, Automation and Test in Europe, Mar 2015, Grenoble, France. pp.1277-1280, ⟨10.7873/DATE.2015.1031⟩
Scopus-Elsevier
International audience; High power consumption during at-speed delay fault testing may lead to yield loss and premature aging. On the other hand, reducing too much test power might lead to test escape and reliability problems. Thus, to avoid these is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2cc134858178734f1d4fbf433ef94a66
http://hdl.handle.net/11583/2614170
http://hdl.handle.net/11583/2614170
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Patrick Girard, Paolo Bernardi, Alberto Bosio, Ernesto Sanchez, M. Sonza Reorda, Luigi Dilillo, Miroslav Valka, M. de Carvalho
Publikováno v:
IEEE Asian Test Symposium
IEEE Asian Test Symposium, Nov 2012, Niigata, Japan. pp.167-172, ⟨10.1109/ATS.2012.58⟩
Asian Test Symposium
IEEE Asian Test Symposium, Nov 2012, Niigata, Japan. pp.167-172, ⟨10.1109/ATS.2012.58⟩
Asian Test Symposium
International audience; High peak power consumption during test may lead to yield loss. On the other hand, reducing too much test power may lead to test escape. In order to overcome this problem, test power has to mimic the power consumed during func
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7d2c8a28321f9967bed12744c4290893
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00805389
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00805389
Autor:
Michael A. Kochte, Miyase, Kohei, Wen, Xiaoqing, Kajihara, Seiji, Yamato, Yuta, Enokimoto, Kazunari, Wunderlich, Hans-Joachim
Publikováno v:
IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design.
Excessive power dissipation during VLSI testing results in over-testing, yield loss and heat damage of the device. For low power devices with advanced power management features and more stringent power budgets, power-aware testing is even more mandat
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2cc73dd3ad319b29c9ac63a1191e28b7
https://doi.org/10.1109/islped.2011.5993600
https://doi.org/10.1109/islped.2011.5993600
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.