Zobrazeno 1 - 10
of 7 481
pro vyhledávání: '"power diodes"'
Autor:
He, Yongjie1 (AUTHOR) 22212020007@m.fudan.edu.cn, Zhao, Feiyang1 (AUTHOR) 23212020203@m.fudan.edu.cn, Huang, Bin1 (AUTHOR) 23212020081@m.fudan.edu.cn, Zhang, Tianyi1 (AUTHOR) 23212020196@m.fudan.edu.cn, Zhu, Hao1,2 (AUTHOR) hao_zhu@fudan.edu.cn
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Apr2024, Vol. 17 Issue 8, p1870. 35p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Open Journal of Power Electronics, Vol 5, Pp 683-691 (2024)
This study discusses the effect of stress on 4H-silicon carbide (4H-SiC) power diodes using numerical simulations. Two power diodes were evaluated; namely, a 600 V PiN diode and 1.8 kV junction barrier Schottky (JBS) diode. Stress changes the carrier
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/70ee468c75d042d1814d2fc5109ed0ae