Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"polycrystalline dielectric"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 9, Pp 90568-90576 (2021)
In this work, a simulation methodology, whose inputs are Conductive Atomic Force Microscope (CAFM) experimental data, is proposed to evaluate the impact of nanoscale variability sources related to the polycrystallization of high-k dielectrics (i.e.,
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/56b7601c4aed4bf89520d780db262f12
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.