Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"piezo-resistive sensing"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Sensors, Vol 15, Iss 9, Pp 24318-24342 (2015)
Measurement of gas density and viscosity was conducted using a micro-cantilever beam. In parallel, the validity of the proposed modeling approach was evaluated. This study also aimed to widen the database of the gases on which the model development o
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/de657c3c215f498bb19450ae8f3e614c
Autor:
Fangzhou Xia, Chen Yang, Yi Wang, Kamal Youcef-Toumi, Christoph Reuter, Tzvetan Ivanov, Mathias Holz, Ivo W. Rangelow
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 9, Iss 7, p 1013 (2019)
Atomic force microscopy is a powerful topography imaging method used widely in nanoscale metrology and manipulation. A conventional Atomic Force Microscope (AFM) utilizes an optical lever system typically composed of a laser source, lenses and a four
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/efa99da9f0974b23958dbbede89a2650
Autor:
Jens-Peter Zöllner, Steve Durstewitz, Jaqueline Stauffenberg, Tzvetan Ivanov, Mathias Holz, Waleed Ehrhardt, W.-Ulrich Riegel, Ivo W. Rangelow
Publikováno v:
Proceedings, Vol 2, Iss 13, p 846 (2018)
In this work the application of a self-sensing and self-actuating cantilever for gas-flow measurement is investigated. The cantilever placed in the flow is excited permanently at its first resonance mode. Simultaneously the resonance amplitude, the r
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/52b25df0984344e3bfd7eed5cba40054
Autor:
Mathias Holz, Christoph Reuter, Tzvetan Ivanov, Chen Yang, Ivo W. Rangelow, Fangzhou Xia, Kamal Youcef-Toumi, Yi Wang
Publikováno v:
Nanomaterials
Volume 9
Issue 7
Nanomaterials, Vol 9, Iss 7, p 1013 (2019)
Volume 9
Issue 7
Nanomaterials, Vol 9, Iss 7, p 1013 (2019)
Atomic force microscopy is a powerful topography imaging method used widely in nanoscale metrology and manipulation. A conventional Atomic Force Microscope (AFM) utilizes an optical lever system typically composed of a laser source, lenses and a four
Autor:
Mathias Holz, Jens-Peter Zöllner, Waleed Ehrhardt, Tzvetan Ivanov, Jaqueline Stauffenberg, Steve Durstewitz, Ivo W. Rangelow, W.-Ulrich Riegel
Publikováno v:
Proceedings, Vol 2, Iss 13, p 846 (2018)
In this work the application of a self-sensing and self-actuating cantilever for gas-flow measurement is investigated. The cantilever placed in the flow is excited permanently at its first resonance mode. Simultaneously the resonance amplitude, the r
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors, Vol 15, Iss 9, Pp 24318-24342 (2015)
Sensors
Volume 15
Issue 9
Pages 24318-24342
Sensors, Vol 15, Iss 9, Pp 24318-24342 (2015)
Sensors
Volume 15
Issue 9
Pages 24318-24342
Measurement of gas density and viscosity was conducted using a micro-cantilever beam. In parallel, the validity of the proposed modeling approach was evaluated. This study also aimed to widen the database of the gases on which the model development o
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.