Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"patrones locales binarios"'
Autor:
José David Alvarado Moreno
Publikováno v:
Tecnura, Vol 20, Iss 47, Pp 97-106 (2016)
This paper presents the use of spatial analysis techniques texture images for defects identification in textiles, where the application of pre-processing techniques is presented, and the analysis of texture local binary patterns and co-occurrence mat
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/da803d7729bb4c088c9756569d7d62f1
Autor:
José Armando Fernández, José David Alvarado Moreno, Diego Mauricio Florián, César Augusto Sánchez
Publikováno v:
Iteckne, Vol 7, Iss 1, Pp 75-82 (2010)
En este artículo se utilizan técnicas de procesamiento de imágenes para la detección de defectos en textiles en el sector industrial. Se evalúa el desempeño de tres técnicas espaciales con descriptores estadísticos para la extracción de cara
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/21aa34e07be044e389c77c36eb4378bf
Autor:
José David Alvarado Moreno
Publikováno v:
Tecnura, Volume: 20, Issue: 47, Pages: 106-97, Published: JAN 2016
Tecnura, Vol 20, Iss 47, Pp 97-106 (2016)
Tecnura, Vol 20, Iss 47, Pp 97-106 (2016)
En el siguiente trabajo se presenta la utilización de técnicas espaciales de análisis de textura en imágenes para la identificación de defectos en textiles, en donde se presenta la aplicación de técnicas para pre-procesamiento, y para el anál
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fd9b677bdecbedb65233e089c6240a3e
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0123-921X2016000100008&lng=en&tlng=en
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0123-921X2016000100008&lng=en&tlng=en
Autor:
S César Augusto Sánchez, G José Armando Fernández, P Diego Mauricio Florián, José David Alvarado Moreno
Publikováno v:
Iteckne, Vol 7, Iss 1, Pp 75-82 (2010)
En este articulo se utilizan tecnicas de procesamiento de imagenes para la deteccion de defectos en textiles en el sector industrial. Se evalua el desempeno de tres tecnicas espaciales con descriptores estadisticos para la extraccion de caracteristic