Výsledky vyhledávání - "negative bias temperature instability (NBTI) variability"

NBTI-Related Variability Impact on 4-nm Node FinFET SRAM Performance and Static Powe r: Correlation to Time Zero Fluctuations

Autor: MISHRA, S, PARIHAR, N, ANANDKRISHNAN, R, DABHI, CK, CHAUHAN, YS, MAHAPATRA, S

Publikováno v: IndraStra Global.

A Monte Carlo SPICE framework is proposed to evaluate the impact of negative bias temperature instability (NBTI) variability on performance and static power (P-S) of static random access memory (SRAM) array on 14-nm node FinFETs. Gamma distribution i

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=issn23813652::87a4b79ba1610697795b04e9ed1990c1
http://dspace.library.iitb.ac.in/xmlui/handle/100/22766

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání