Zobrazeno 1 - 10
of 81
pro vyhledávání: '"near-field microwave microscopy"'
Publikováno v:
IEEE Journal of Microwaves, Vol 3, Iss 3, Pp 962-969 (2023)
Using near-field scanning microwave microscopy as a contact and non-contacting investigative tool for 3D surface metrology with three differing measurement modes, it has been possible to analyse structures that may be difficult for existing metrology
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/088b57b28087416eae6f761b480a554f
Autor:
C. H. Joseph, Giovanni Capoccia, Andrea Lucibello, Emanuela Proietti, Giovanni Maria Sardi, Giancarlo Bartolucci, Romolo Marcelli
Publikováno v:
Sensors, Vol 23, Iss 6, p 3360 (2023)
This work details an effective dynamic chemical etching technique to fabricate ultra-sharp tips for Scanning Near-Field Microwave Microscopy (SNMM). The protruded cylindrical part of the inner conductor in a commercial SMA (Sub Miniature A) coaxial c
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8e6fab9df2df4a37ab124b852a694383
Autor:
Kohei Yamasue, Yasuo Cho
Publikováno v:
Nanomaterials, Vol 12, Iss 5, p 794 (2022)
Scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM) is a near-field microwave-based scanning probe microscopy method with a wide variety of applications, especially in the fields of dielectrics and semiconductors. This microscopy method has often been co
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/d4a5f56123f84c078c5772ba0530feff
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kohei Yamasue, Yasuo Cho
Publikováno v:
Nanomaterials; Volume 12; Issue 5; Pages: 794
Scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM) is a near-field microwave-based scanning probe microscopy method with a wide variety of applications, especially in the fields of dielectrics and semiconductors. This microscopy method has often been co
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nanotechnology
Nanotechnology, 2017, 28 (33), 335702, 11 p. ⟨10.1088/1361-6528/aa7a36⟩
Nanotechnology, Institute of Physics, 2017, 28 (33), 335702, 11 p. ⟨10.1088/1361-6528/aa7a36⟩
Nanotechnology, 2017, 28 (33), 335702, 11 p. ⟨10.1088/1361-6528/aa7a36⟩
Nanotechnology, Institute of Physics, 2017, 28 (33), 335702, 11 p. ⟨10.1088/1361-6528/aa7a36⟩
International audience; In this paper, a broadband non-destructive and non-contact local characterization of graphene fabricated by epitaxial method on silicon carbide is demonstrated by using an interferometerbased near-field microwave microscope. F
Publikováno v:
Procedia Engineering
Procedia Engineering, Elsevier, 2014, 87, pp.388-391. ⟨10.1016/j.proeng.2014.11.733⟩
Procedia Engineering, 2014, EUROSENSORS 2014, the 28th European Conference on Solid-State Transducers, 87, pp.388-391. ⟨10.1016/j.proeng.2014.11.733⟩
Procedia Engineering, Elsevier, 2014, 87, pp.388-391. ⟨10.1016/j.proeng.2014.11.733⟩
Procedia Engineering, 2014, EUROSENSORS 2014, the 28th European Conference on Solid-State Transducers, 87, pp.388-391. ⟨10.1016/j.proeng.2014.11.733⟩
International audience; We report an original near-field microwave microscope based on an interferometric technique for dielectric characterization in liquid media. The instrumentation combines a vector network analyzer, an interferometry-based match
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.