Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"nano/micro measurement and intelligent instruments"'
Publikováno v:
Journal of Advanced Mechanical Design, Systems, and Manufacturing, Vol 18, Iss 4, Pp JAMDSM0051-JAMDSM0051 (2024)
Currently, measurement of long and thin objects is done by the contact method. However, some problems such as long measurement time including fixing the gauge and the object to be measured and the effects of buckling and other problems caused by cont
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/255e76c9eea34987a47d15edc09d0822
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.