Zobrazeno 1 - 10
of 352
pro vyhledávání: '"metrological inspection"'
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kourra, Nadia1 N.Kourra@warwick.ac.uk, Warnett, Jason1, Attridge, Alex1, Dahnel, Aishah1, Ascroft, Helen1, Barnes, Stuart1, Williams, Mark1
Publikováno v:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Feb2017, Vol. 88 Issue 5-8, p1417-1427. 11p. 2 Black and White Photographs, 4 Diagrams, 3 Charts, 4 Graphs.
Publikováno v:
2023 IEEE 3rd International Conference on Power, Electronics and Computer Applications (ICPECA).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::282cc90531f714d25bb2c3eae7af1caa
https://doi.org/10.1109/icpeca56706.2023.10075995
https://doi.org/10.1109/icpeca56706.2023.10075995
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Lecture Notes in Electrical Engineering ISBN: 9783030942014
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fa72c621c4694923f91aeb184b4a769a
https://doi.org/10.1007/978-3-030-94202-1_6
https://doi.org/10.1007/978-3-030-94202-1_6
Autor:
Alexander P. Karpik, Aleksandr P. Reshetov, A. V. Ustinov, Konstantin M. Antonovich, N. S. Kosarev
Publikováno v:
Vestnik SSUGT (Siberian State University of Geosystems and Technologies). 24:34-43
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c59c3e96475bffdcc3b48530d1f47263
https://doi.org/10.33764/2411-1759-2019-24-4-34-43
https://doi.org/10.33764/2411-1759-2019-24-4-34-43
Autor:
Stuart Barnes, Mark A. Williams, Nadia Kourra, Jason M. Warnett, Helen Ascroft, Aishah Najiah Dahnel, Alex Attridge
Publikováno v:
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 88:1417-1427
This paper demonstrates a novel method that combines X-ray computed tomography (CT) and image processing for investigating two materials with significantly different densities. CT is increasingly used in industrial applications of inspecting material
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6384bb109da0fa0158e94232be624b65
https://doi.org/10.1007/s00170-016-8691-4
https://doi.org/10.1007/s00170-016-8691-4
Autor:
Stuart Barnes, Mark A. Williams, Nadia Kourra, Aishah Najiah Dahnel, Jason M. Warnett, Alex Attridge, Helen Ascroft
Publikováno v:
2016 IEEE Metrology for Aerospace (MetroAeroSpace).
This paper demonstrates a novel method that combines X-ray Computed Tomography (CT) and image processing for the investigation of bonded materials with significantly different densities. CT is increasingly used in aerospace applications for the inspe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b1bdcae5d03452e3f663815e359de0c6
https://doi.org/10.1109/metroaerospace.2016.7573230
https://doi.org/10.1109/metroaerospace.2016.7573230
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.