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Akademický článek

Determinación del contenido de silicio y cromo en fundiciones grises mediante el método de Van der Pauw

Autor: E. Tremps, J. L. Enríquez, C. Morón, A. García, A. Gómez

Publikováno v: Revista de Metalurgia, Vol 49, Iss 4, Pp 284-291 (2013)

En este trabajo se presenta un sistema basado en la medida de la resistividad de las muestras de la fundición gris mediante el método de Van der Pauw para evaluar el contenido de silicio presente en dichas muestras. Se han realizado 25 ensayos dife

Externí odkaz: https://doaj.org/article/2e4422c9a8b1484880f511b40734caaa

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Efecto del grosor de la película delgada de SnO2 sobre las propiedades estructurales, ópticas y eléctricas de las bicapas sustrato/SnO2(x)/TiO2 y sustrato/TiO2/SnO2(x)

Autor: De la Torre Pari, Sonia Alina

Publikováno v: Universidad Nacional de San Agustín de Arequipa
Repositorio Institucional-UNSA
UNSA-Institucional
Universidad Nacional de San Agustín
instacron:UNSA

Películas delgadas de óxidos semiconductores de TiO2, SnO2 y bicapas TiO2 / SnO2 fueron depositadas por la técnica de pulverización catódica DC (Sputtering), en sustratos de vidrio y alúmina. Primeramente, han sido estudiadas las películas del

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::014533b5798dbe0b48cb3bc06c256c28

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Instrumentación para medidas de movilidad electrónica y concentración de portadores en muestras de semiconductores, mediante el método de van der Pauw

Autor: Ribeiro, Luiz Henrique, Oliveira, Adhimar Flávio, Rubinger, Rero Marques

Publikováno v: Research, Society and Development; Vol. 10 No. 6; e41310615229
Research, Society and Development; Vol. 10 Núm. 6; e41310615229
Research, Society and Development; v. 10 n. 6; e41310615229
Research, Society and Development
Universidade Federal de Itajubá (UNIFEI)
instacron:UNIFEI

In this work we present the results of the construction of low-cost equipment for Hall measurements, using the van der Pauw technique. For this, a system was developed composed of an electronic board controlled by a DAQ board that together with softw

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::6ffdb1aa92d959e4b7f1fc07e07213ff
https://rsdjournal.org/index.php/rsd/article/view/15229

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Determinación del contenido de silicio y cromo en fundiciones grises mediante el método de Van der Pauw

Autor: J. L. Enríquez, A. García, A. Gómez, Carlos Morón, E. Tremps

Publikováno v: Revista de Metalurgia, Vol 49, Iss 4, Pp 284-291 (2013)

In this paper we show a system based on the resistivity measurement of samples of gray cast iron by the Van der Pauw method to calculate the silicon content in the samples. Twenty five trials have been carried out, studying resistive and metallograph

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0022dd86850799d2d7a218280caf97f4
http://revistademetalurgia.revistas.csic.es/index.php/revistademetalurgia/article/view/1286

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Fabricación de fotoelectrodos transparentes de SnO2 y caracterizaciones estructural y eléctrica

Autor: López García, José María, Gómez Lopera, Salvador Ángel

Publikováno v: Repositorio Digital de la Universidad Politécnica de Cartagena
instname

[ESP] Se han fabricado fotoelectrodos transparentes de dióxido de estaño dopado con flúor (SnO2:F) sobre sustratos de vidrio de 18.75 cm2 de superficie y 1.2 mm de espesor mediante el método de pirolisis de espray. Se crecieron películas de apro

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::154035e18dd781ad391ab8b539b36b7f
http://hdl.handle.net/10317/5913

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Determinación del contenido de silicio y cromo en fundiciones grises mediante el método de Van der Pauw

Autor: Tremps, E., Enríquez, J. L., Morón, C., García, A., Gómez, A.

Publikováno v: Revista de Metalurgia; Vol. 49 No. 4 (2013); 284-291
Revista de Metalurgia; Vol. 49 Núm. 4 (2013); 284-291
Revista de Metalurgia
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)

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https://revistademetalurgia.revistas.csic.es/index.php/revistademetalurgia/article/view/1286

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