Zobrazeno 1 - 10
of 167
pro vyhledávání: '"lifetime reliability"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 9, Pp 114120-114134 (2021)
In nano-scale CMOS technology, circuit reliability is a growing concern for complicated digital circuits due to manufacturing process variation and aging effects. In this paper, a statistical circuit optimization framework is presented to analyze and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ecd619139f194e71a379548ae5664fe8
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 98462-98473 (2019)
Harvesting renewable generation (e.g., solar energy) from the ambient environment to achieve a near perpetual operation for embedded systems is being paid more and more attention by academia and industry. However, an immediate problem along with the
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a8801b0b69de437294039f99c95ebe0b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Engineering (2019)
The clamping force is the most important parameter of Press Pack IGBTs (PP IGBTs) as it not only affects the electrical, thermal, and mechanical characteristic, but also the long lifetime reliability. Too little clamping force increases the contact r
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c148379b99794076bf0329c54d83f031
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vijeta Rathore, Thambipillai Srikanthan, Amit Kumar Singh, Vivek Chaturvedi, Muhammad Shafique
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computers. 70:1106-1119
Rapid device aging in the nano era threatens system lifetime reliability, posing a major intrinsic threat to system functionality. Traditional techniques to overcome the aging-induced device slowdown, such as guardbanding are static and incur perform
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a5a3430d9c1fcd3322f09e3529235068
https://doi.org/10.1109/tc.2020.3006571
https://doi.org/10.1109/tc.2020.3006571