Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"layer-wise scanning"'
Autor:
Alejandro Fernández, Pablo Zapico, David Blanco, Fernando Peña, Natalia Beltrán, Sabino Mateos
Publikováno v:
Sensors, Vol 24, Iss 11, p 3459 (2024)
Material Extrusion (MEX) currently stands as the most widespread Additive Manufacturing (AM) process, but part quality deficiencies remain a barrier to its generalized industrial adoption. Quality control in MEX is a complex task as extrusion perform
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f35edc9dc3944294a53f08b04e117dec
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.