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Einsatz eines iterativen Nahfeldscanverfahrens zur Ermittlung der Stromverteilung von Leiterplatten anhand eines Multi-Dipol-Modells

Autor: Nowak, Robert, Frei, Stephan

Publikováno v: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Düsseldorf, 2018

Die Untersuchung des magnetischen Nahfeldes stellt eine Möglichkeit dar, Aussagen über das EMV-Verhalten zu treffen. So können im einfachsten Fall Bereiche mit hohen Feldstärken lokalisiert werden. Über eine Nachbearbeitung der Messdaten können

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7dbc37731d1c93d42c2736ec95184e23
https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/4413

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