Zobrazeno 1 - 10
of 4 694
pro vyhledávání: '"ionizing radiation effects"'
Autor:
Huber, Chiara1 (AUTHOR), Elsaeed, Omar1 (AUTHOR), Lahmer, Pia1 (AUTHOR), Moertl, Simone1 (AUTHOR) smoertl@bfs.de
Publikováno v:
Cell Communication & Signaling. 10/2/2024, Vol. 22 Issue 1, p1-19. 19p.
Publikováno v:
Cell Communication and Signaling, Vol 22, Iss 1, Pp 1-19 (2024)
Abstract Adverse effects of ionizing radiation on normal tissues limit the radiation dose in cancer treatment, thereby compromising treatment efficiency. Among the consistently affected non-cancer cells, peripheral blood mononuclear cells (PBMCs) exh
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6ae2061356c14d66947ae0ba6700a89b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Foods and Raw Materials, Vol 12, Iss 1, Pp 1-12 (2024)
There are two main types of radiation: ionizing and non-ionizing. Radiations are widely distributed in the earth’s crust with small amounts found in water, soil, and rocks. Humans can also produce them through military, scientific, and industrial
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f1fd243872784cb8b5f4938df5425cd2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, Ping, Li, Yu-Wen, Lu, Xue, Liu, Ya, Tian, Xue-Lei, Gao, Ling, Liu, Qing-Jie, Fan, Li, Tian, Mei
Publikováno v:
In Mutation Research - Genetic Toxicology and Environmental Mutagenesis May-June 2023 888
Autor:
Allegro, Paula R.P., Toufen, Dennis L., Aguiar, Vitor A.P., dos Santos, Lucas S.A., de Oliveira, William N., Added, Nemitala, Medina, Nilberto H., Macchione, Eduardo L.A., Alberton, Saulo G., Guazzelli, Marcilei A., Melo, Marco A.A., Oliveira, Juliano A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2023 142