Výsledky vyhledávání - "interfaces enterrées"

Étude du photo-potentiel de surface pour la caractérisation des interfaces enterrées par microscopie à sonde de Kelvin

Autor: Aubriet, Valentin

Publikováno v: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes [2020-..], 2022. Français. ⟨NNT : 2022GRALT028⟩

Interface characterization is crucial for several types of devices such as light emitting diodes, solar cells, photodetectors or transistors. In the particular case of photodetectors, defects located at the interfaces are considered as a source of da

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3515::b8dbb65dbf001e65ee6c09e323e33fe4
https://theses.hal.science/tel-03716056

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Conference

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Microscopie à Emission d'Electrons Balistiques (BEEM): sonde locale des propriétés électroniques d'interfaces enterrées

Autor: Guézo, Sophie, Turban, Pascal, Solal, Francine, Ababou-Girard, Soraya, Tricot, Sylvain, Lépine, Bruno, Delhaye, Gabriel, Schieffer, Philippe

Publikováno v: 13èmes journées de la matière condensée, JMC13
13èmes journées de la matière condensée, JMC13, Aug 2012, Montpellier, France

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::41f0a1b011eae4bf926b78e237d4606f
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00934019

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Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X

Autor: A. Bourret

Publikováno v: Journal de Physique IV Proceedings
Journal de Physique IV Proceedings, EDP Sciences, 1997, 07 (C6), pp.C6-19-C6-29. ⟨10.1051/jp4:1997602⟩

X-ray diffraction (and/or diffusion) is a powerful tool for studying buried interfaces. The experimental X-ray techniques are reviewed, including reflectivity at low angle, extended reflectivity, non-specular diffuse scattering, grazing incidence dif

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5640344054eecd2f26a5b4c47e95d43e
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00255701

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Dissertation/ Thesis

Développement de la microscopie interférométrique pour une meilleure analyse morphologique des couches minces et épaisses des matériaux semiconducteurs et optiques

Autor: Benatmane, Abderrazzaq

Les techniques d'interférométrie microscopiques, basées sur le principe de l'interférence lumineuse, ont connu un développement considérable au cours des dernières années. On distingue deux familles de techniques : la microscopie à saut de p

Externí odkaz: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00002418
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/04/51/89/PDF/tel-00002418.pdf

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Periodical

L'apport des rayons X à l'étude des surfaces et interfaces

Autor: Deville, J.-P., Deville, J.-P.

Publikováno v: Journal de Physique IV - Proceedings; December 1996, Vol. 6 Issue: 1 pC4-417-C4-428, 4174425p

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Dissertation/ Thesis

Spectroscopies optiques non linéaires pour l'analyse des interfaces

Autor: Peremans, André AP

L'impact de la science des surfaces sur l'évolution de la société se reconnaît par la diversité des matériaux modernes qui sont optimisés pour leurs propriétés de surface telles que l'adhérence, la dureté, la résistance à la corrosion ou

Externí odkaz: http://edoc.bib.ucl.ac.be:61/ETD-db/collection/available/FUNDPetd-06222005-131923/

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Dissertation/ Thesis

Characterization of deeply buried interfaces by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

Autor: Zborowski, Charlotte

Cette thèse vise à améliorer la méthode d'analyse du fond continu inélastique afin de l'appliquer à des cas qui présentent un intérêt technologique. En effet, ces améliorations sont cruciales car elles portent sur des critères de précisio

Externí odkaz: http://www.theses.fr/2018LYSEC025/document

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Dissertation/ Thesis

Multilayer monochromators for EUV and X-ray optics and the interface characterization

Autor: Tu, Yuchun

Dans cette thèse, nous avons étudié plusieurs combinaisons de matériaux et quelques méthodes d’ingénierie des interfaces : introduction de barrières de Zr dans les multicouches Co/Mg ; pulvérisation réactive des multicouches Co/Ti ; incorp

Externí odkaz: http://www.theses.fr/2015PA066062/document

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Monochromateurs multicouche pour les domaines des rayons X et de l'extrême ultra-violet et la caractérisation de leurs interfaces

Autor: Tu, Yuchun

Publikováno v: Other. Université Pierre et Marie Curie-Paris VI; Tongji university (Shanghai, Chine), 2015. English. ⟨NNT : 2015PA066062⟩

In this thesis, we study several material combinations and some interface engineering methods...; Dans cette thèse, nous avons étudié plusieurs combinaisons de matériaux et quelques méthodes d’ingénierie des interfaces : introduction de barri

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::51ee95d4ccd021043b44e159f32523a2
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01134315

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