Zobrazeno 1 - 10
of 76
pro vyhledávání: '"in situScanning electron microscopy"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
E. A. Torres, Antonio J. Ramirez
Publikováno v:
Science and Technology of Welding and Joining. 16:68-78
Electron microscopy has been an important technique for the advancement of materials and joining science allowing studies from the macro‐ to the atomic scale. Such studies are normally performed ex situ, i.e. the material is analysed before and aft
Publikováno v:
Materials Science and Technology. 25:1189-1192
Reaction products formed at the welding interface of aluminium/steel can deteriorate mechanical properties. It would therefore be quite beneficial to analyse the mechanism of crack propagation to obtain strong joints. In this study, we directly obser
Publikováno v:
Materials at High Temperatures. 22:185-193
α-iron samples, with a 4 to 6 nm oxide layer on top of the surface due to preparation, were oxidised in situ within a scanning electron microscopy equipped with electron back-scatter diffraction. At 773 and 973 K, two different growth mechanisms dur
Autor:
Paul Finnie, Yoshikazu Homma
Publikováno v:
Physical Review B. 59:15240-15245
Autor:
Wang, Zhu-Jun, Weinberg, Gisela, Zhang, Qiang, Lunkenbein, Thomas, Klein-Hoffmann, Achim, Kurnatowska, Michalina, Plodinec, Milivoj, Li, Qing, Chi, Lifeng, Schloegl, R., Willinger, Marc-Georg
Publikováno v:
ACS Nano; February 2015, Vol. 9 Issue: 2 p1506-1519, 14p
Autor:
Rothman, Amnon, Bukvišová, Kristýna, Itzhak, Noya Ruth, Kaplan-Ashiri, Ifat, Kossoy, Anna Eden, Sui, Xiaomeng, Novák, Libor, Šikola, Tomáš, Kolíbal, Miroslav, Joselevich, Ernesto
Publikováno v:
ACS Nano; 20220101, Issue: Preprints
Autor:
Kazuki Yamada, Hiroki Hibino, Chuhei Oshima, Yuta Momiuchi, Genki Odahara, Hiroki Kato, Yoshikazu Homma
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics. 47:455301
In situ scanning electron microscopy (SEM) was used for observing the nucleation of graphene by segregation of bulk-dissolved carbon on a flat polycrystalline nickel surface. Preferential nucleation sites were determined on large (1 1 1) grains. In c