Zobrazeno 1 - 1
of 1
pro vyhledávání: '"iндуковане частинками характеристичне рентгенiвське випромiнювання"'
Publikováno v:
Ukrainian Journal of Physics; Vol. 58 No. 4 (2013); 311
Український фізичний журнал; Том 58 № 4 (2013); 311
Український фізичний журнал; Том 58 № 4 (2013); 311
The Rutherford backscattering and particle-induced X-ray emission methods are used to study the surface layers in gold–silicon structures, the parameters of which govern the operational characteristics of electron devices constructed on their basis
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ac004bb8872fb6fffa3ff5eeb7f60397
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018296
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2018296
