Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"hot carrier injection stress effect"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 11, Pp 21417-21426 (2023)
The design of countermeasures against integrated circuit counterfeit recycling requires the ability to simulate aging in CMOS devices. Electronic design automation tools commonly provide this ability; however, their models must be tuned for use with
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/325b13cdc031482593e03939c59c22ad
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.