Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"him-sims"'
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 12, Iss 1, Pp 1-23 (2021)
Scanning helium-ion microscopy (HIM) is an imaging technique with sub-nanometre resolution and is a powerful tool to resolve some of the tiniest structures in biology. In many aspects, the HIM resembles a field-emission scanning electron microscope (
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3316b0d0fbf24e30852c04e8f003a286
Publikováno v:
Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 12, Iss 1, Pp 1-23 (2021)
Beilstein Journal of Nanotechnology
Beilstein Journal of Nanotechnology
Scanning helium-ion microscopy (HIM) is an imaging technique with sub-nanometre resolution and is a powerful tool to resolve some of the tiniest structures in biology. In many aspects, the HIM resembles a field-emission scanning electron microscope (
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::aa50c0c80018f00b40bd96fda38648fd
https://doaj.org/article/3316b0d0fbf24e30852c04e8f003a286
https://doaj.org/article/3316b0d0fbf24e30852c04e8f003a286
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.