Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"harden circuit"'
Publikováno v:
Micromachines, Vol 15, Iss 4, p 527 (2024)
The single-event effects (SEEs) of frequency divider circuits and the radiation tolerance of the hardened circuit are studied in this paper. Based on the experimental results of SEEs in InP HBTs, a transient current model for sensitive transistors is
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/21da059ce10643cab49cd1fc3147ce0c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.