Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"hard X-ray ptychography"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Thomas L. Sheppard, Martin Seyrich, Dennis Brueckner, Thomas F. Keller, Yakub Fam, Xiaogang Yang, Christian G. Schroer, Dennis Scherhaufer, Jan-Dierk Grunwaldt, Andreas Schropp, Satishkumar Kulkarni, Felix Wittwer, Maik Kahnt, Heinz Lambach, Johannes Becher, Arne Wittstock, Andreas Stierle
Publikováno v:
Journal of Synchrotron Radiation
Journal of synchrotron radiation, 26 (5), 1769–1781
Journal of synchrotron radiation 26(5), 1769-1781 (2019). doi:10.1107/S160057751900660X
Journal of synchrotron radiation, 26 (5), 1769–1781
Journal of synchrotron radiation 26(5), 1769-1781 (2019). doi:10.1107/S160057751900660X
Journal of synchrotron radiation 26(5), 1769 - 1781 (2019). doi:10.1107/S160057751900660X
Two in situ `nanoreactors' for high-resolution imaging of catalysts have been designed and applied at the hard X-ray nanoprobe endstation at beamline P06 o
Two in situ `nanoreactors' for high-resolution imaging of catalysts have been designed and applied at the hard X-ray nanoprobe endstation at beamline P06 o
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.