Zobrazeno 1 - 10
of 17 749
pro vyhledávání: '"gate oxide thickness"'
Publikováno v:
In Solid State Electronics July 2024 217
Autor:
Hashim, Nuralia Syahida1, Poobalan, Banu1,2 banu@unimap.edu.my, Zakaria, Nor Farhani1,3, Natarajan, Manikandan4, Shaari, Safizan1
Publikováno v:
Trends in Sciences. Jun2023, Vol. 20 Issue 6, p1-14. 14p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Feng, Haonan1,2,3 (AUTHOR), Liang, Xiaowen1,2,3 (AUTHOR), Sun, Jing1,2 (AUTHOR) fengjie@ms.xjb.ac.cn, Feng, Jie1,2 (AUTHOR) fengjie@ms.xjb.ac.cn, Wei, Ying1,2 (AUTHOR), Zhang, Teng4 (AUTHOR), Pu, Xiaojuan1,2,3 (AUTHOR), Zhang, Dan1,2,3 (AUTHOR), Xiang, Yutang1,2,3 (AUTHOR), Li, Yudong1,2 (AUTHOR), Yu, Xuefeng1,2 (AUTHOR), Guo, Qi1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Radiation Effects & Defects in Solids: Incorporating Plasma Techniques & Plasma Phenomena. Sep/Oct2023, Vol. 178 Issue 9/10, p1201-1210. 10p.
Autor:
Zhu, Shengnan1 (AUTHOR) zhu.2670@osu.edu, Liu, Tianshi1 (AUTHOR), Fan, Junchong1 (AUTHOR), Maddi, Hema Lata Rao1 (AUTHOR), White, Marvin H.1 (AUTHOR), Agarwal, Anant K.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Sep2022, Vol. 15 Issue 17, p5995. 11p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 360 Issue: 1 p183-187, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.