Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"fonctional failure"'
Autor:
Machouat, Aziz
Avec l’évolution des technologies vers la haute intégration, il devient de plus en plus difficile de localiser les défaillances fonctionnelles situées dans la partie logique des circuits intégrés. En effet, la résolution spatiale fournie par
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2008BOR13709/document